穿透式電子顯微鏡(TEM)

FEI 所出品穿透式電子顯微鏡，處於市場領先地位，以完全整合自動化操作為特點，適用於分析金屬、陶瓷、半導體電、生醫、高分子子材料等。可觀察物體之形貌、分析材料內部之微細組織、缺陷及晶體結構。能同時提供高解像分析（HRTEM / HR STEM），微電子束繞射分析（Micro diffraction），EDS微區域化學成份分析、化學元素Mapping與Line Profile分析及3D-Tomograph 功能，可作多方位繞射分析及高品質之明、暗視野影像，是分析材料微觀結構中不可或缺的工具。
三種 FEI 產品系列：

Morgagni 系列:適用於生物學及生命科學研究。

Tecnai 系列:專用於生命科學及材料科學研究、半導體、金屬、陶瓷、生醫、高分子子材料等所需的高解析及高對比度影像。

Titan系列:當前推出的 Titan 80-300 kV S/TEM，是世界上功能最強大的商用 TEM。自 2005 推出以來，它已迅速成為全球頂級研究人員的首選S/TEM，實現了 TEM 及 S/TEM 模式下的原子級分辨率研究及探索。